近日，全球精密测量领导者ZEISS（蔡司）正式推出新一代O-INSPECT复合式测量系统。该系统开创性地将光学、接触式和激光传感器集成于一体，实现了多种测量技术的无缝融合，为复杂零部件的精密测量带来了革命性的突破。

核心技术创新

• 三传感器融合技术：光学、接触式和激光传感器协同工作，一机多能
• ZEISS Discovery V12光学系统：提供卓越的图像分辨率和色彩保真度
• ZEISS VAST XXT接触式探头：实现纳米级精度扫描测量
• 智能传感器切换：系统根据测量任务自动选择最优传感器组合
• CALYPSO 2026测量软件：支持可视化编程，大幅降低操作门槛
• 测量范围：322 × 322 × 200 mm，适合中型复杂零部件
• XY精度达到(1.4+L/250)μm，行业领先水平

技术参数

参数	规格
测量行程	322 × 322 × 200 mm
XY精度	(1.4+L/250) μm
Z精度	(1.9+L/200) μm
光学倍率	0.5x - 8.0x
承重	25 kg

典型应用场景

市场价值

O-INSPECT复合式测量系统的推出，标志着多传感器测量技术进入全新阶段。对于需要同时检测几何尺寸和表面特征的复杂零部件，传统单传感器方案往往需要多台设备配合使用，而O-INSPECT一次装夹即可完成全部测量任务，测量效率提升50%以上，显著降低了企业的质量检测成本。

奥智精密作为ZEISS的合作伙伴，可为客户提供O-INSPECT系统的全面技术服务，包括方案咨询、设备安装、操作培训和售后维护等一站式解决方案。